Funktionale Sicherheitsausfallraten von Logikelementen

Die Bauteilausfallrate (FIT) für Logikelemente hängt von der im Logikelement verwendeten Technologie ab.

Zuverlässigkeitsdaten aus Siemens Norm SN 29500-2:

Wichtig: Die SN29500-2-FIT-Daten hängen von der Halbleitertechnologie ab:

• TTL, TTL-LS, TTL-ALS & TTL-F:
  • mit ≤ 10 Eingängen + Ausgängen (= SSI/MSI): 2 FITs (mit einer Referenz-virtuellen $T_J$ von 45°C)
  • mit > 10 Eingängen + Ausgängen (= LSI): 4 FITs (mit einer Referenz-virtuellen $T_J$ von 55°C)
• TTL-S:
  • mit ≤ 10 Eingängen + Ausgängen (= SSI/MSI): 4 FITs (mit einer Referenz-virtuellen $T_J$ von 45°C)
  • mit > 10 Eingängen + Ausgängen (= LSI): In SN 29500-2 nicht spezifiziert
• ECL: Hängt von der Anzahl der ECL-Gatter und der Familie ab, siehe Tabelle 3 in SN 29500-2
  • 10k: 10 FITs für eine Referenz-virtuelle $T_J$ von 65°C
  • 100k: 15 FITs für eine Referenz-virtuelle $T_J$ von 75°C
  • LVECL/PECL/Low power ECL/ECLinPS: 15 FITs für eine Referenz-virtuelle $T_J$ von 60°C
• HCMOS/CMOS B/ACMOS (FCT, HC, AC, AUC, LVX, LVC, LCX, LV, VCX, ALVC, AVC, AHC & VHC):
  • mit ≤ 10 Eingängen + Ausgängen (= SSI/MSI): 3 FITs (mit einer Referenz-virtuellen $T_J$ von 45°C und einer Referenz-Versorgungsspannung von 5V)
  • mit > 10 Eingängen + Ausgängen (= LSI): 5 FITs (mit einer Referenz-virtuellen $T_J$ von 45°C und einer Referenz-Versorgungsspannung von 5V)
• BiCMOS-Logikgatter:
  • mit ≤ 10 Eingängen + Ausgängen (= SSI/MSI): 3 FITs (mit einer Referenz-virtuellen $T_J$ von 45°C)
  • mit > 10 Eingängen + Ausgängen (= LSI): 5 FITs (mit einer Referenz-virtuellen $T_J$ von 55°C)

Die FITs für nackte (= unverpackte) Chips müssen mit einem Faktor von 2 multipliziert werden.