Sécurité fonctionnelle : taux de défaillance des éléments logiques
Le taux de défaillance des composants (FIT) pour les éléments logiques dépend de la technologie utilisée dans l’élément logique.
Données de fiabilité issues de la norme Siemens SN 29500-2 :
Important : Les données FIT de la SN29500-2 dépendent de la technologie semi-conducteur :
TTL,TTL-LS,TTL-ALS&TTL-F:- avec ≤ 10 entrées + sorties (= SSI/MSI) : 2 FITs (avec une $T_J$ virtuelle de référence de
45°C) - avec > 10 entrées + sorties (= LSI) : 4 FITs (avec une $T_J$ virtuelle de référence de
55°C)
- avec ≤ 10 entrées + sorties (= SSI/MSI) : 2 FITs (avec une $T_J$ virtuelle de référence de
TTL-S:- avec ≤ 10 entrées + sorties (= SSI/MSI) : 4 FITs (avec une $T_J$ virtuelle de référence de
45°C) - avec > 10 entrées + sorties (= LSI) : Non spécifié dans la SN 29500-2
- avec ≤ 10 entrées + sorties (= SSI/MSI) : 4 FITs (avec une $T_J$ virtuelle de référence de
ECL: Dépend du nombre de portes ECL et de la famille, voir le tableau 3 dansSN 29500-210k: 10 FITs pour une $T_J$ virtuelle de référence de65°C100k: 15 FITs pour une $T_J$ virtuelle de référence de75°CLVECL/PECL/Low power ECL/ECLinPS: 15 FITs pour une $T_J$ virtuelle de référence de60°C
HCMOS/CMOS B/ACMOS(FCT,HC,AC,AUC,LVX,LVC,LCX,LV,VCX,ALVC,AVC,AHC&VHC) :- avec ≤ 10 entrées + sorties (= SSI/MSI) : 3 FITs (avec une $T_J$ virtuelle de référence de
45°Cet une tension d’alimentation de référence de 5V) - avec > 10 entrées + sorties (= LSI) : 5 FITs (avec une $T_J$ virtuelle de référence de
45°Cet une tension d’alimentation de référence de 5V)
- avec ≤ 10 entrées + sorties (= SSI/MSI) : 3 FITs (avec une $T_J$ virtuelle de référence de
- Portes logiques
BiCMOS:- avec ≤ 10 entrées + sorties (= SSI/MSI) : 3 FITs (avec une $T_J$ virtuelle de référence de
45°C) - avec > 10 entrées + sorties (= LSI) : 5 FITs (avec une $T_J$ virtuelle de référence de
55°C)
- avec ≤ 10 entrées + sorties (= SSI/MSI) : 3 FITs (avec une $T_J$ virtuelle de référence de
Les FITs pour les puces nues (= non encapsulées) doivent être multipliés par un facteur de 2.
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