Sécurité fonctionnelle : taux de défaillance des éléments logiques

Le taux de défaillance des composants (FIT) pour les éléments logiques dépend de la technologie utilisée dans l’élément logique.

Données de fiabilité issues de la norme Siemens SN 29500-2 :

Important : Les données FIT de la SN29500-2 dépendent de la technologie semi-conducteur :

Les FITs pour les puces nues (= non encapsulées) doivent être multipliés par un facteur de 2.


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