До какой частоты необходимо тестировать излучаемые помехи (CISPR 11 / EN55011)?

В недавно обновлённом стандарте EN55011:2025 для промышленного, научного и медицинского (ISM) оборудования имеется значительное изменение в отношении диапазона частот для тестирования излучаемых помех.

В то время как раньше часто было достаточно тестирования до 1 ГГц, новый стандарт требует, чтобы вы тестировали излучаемые помехи до частоты, зависящей от наивысшей внутренней частоты тестируемого устройства.

• Для устройств с наивысшей внутренней частотой до 108 МГц тестирование требуется до 1 ГГц
• Для устройств с наивысшей внутренней частотой между 108 МГц и 500 МГц тестирование требуется до 2 ГГц
• Для устройств с наивысшей внутренней частотой между 500 МГц и 1 ГГц тестирование требуется до 5 ГГц
• Для устройств с наивысшей внутренней частотой выше 1 ГГц тестирование требуется до $5f$ до максимума 6 ГГц. Примеры:
  • Для f=1 ГГц тестирование до 5 ГГц
  • Для f=1.1 ГГц тестирование до 5.5 ГГц
  • Для f>=1.2 ГГц тестирование до 6 ГГц
• Если наивысшая внутренняя частота неизвестна, тестирование требуется до 6 ГГц

Также следует учитывать, что ваше устройство может содержать PLL-генераторы или другие умножители частоты, которые генерируют более высокие внутренние частоты, чем основная тактовая частота вашего микроконтроллера или FPGA. Эти более высокие частоты должны быть учтены при определении наивысшей внутренней частоты вашего устройства.

Источник: Таблица 10 EN IEC 55011:2025

Определение наивысшей внутренней частоты

Наивысшая внутренняя частота определяется в EN IEC 55011:2025, раздел 3.1.17 как наивысшая фундаментальная частота, генерируемая внутри тестируемого оборудования, включая частоты, используемые только внутри интегральных схем.

Это определение явно включает также частоты, которые генерируются только внутри интегральной схемы, такие как выходные частоты PLL, недоступные ни на одном внешнем выводе ИС.

Обычно наивысшая внутренняя частота определяется путём изучения технического справочного руководства соответствующих интегральных схем, используемых в тестируемом устройстве, таких как микроконтроллеры, FPGA, генераторы тактовых импульсов и т.д.

Гармоники учитывать не нужно, только фундаментальные частоты.

Если вы не уверены в наивысшей внутренней частоте вашего устройства, вы можете попытаться проверить частотный состав устройства с помощью анализатора спектра и E-field ближней зоной вблизи кристалла соответствующих интегральных схем. Однако это также зафиксирует гармоники, поэтому нужно быть осторожным, чтобы идентифицировать только фундаментальные частоты и сопоставить результаты с документацией.