运算放大器和比较器的失效率（FIT）是多少？

运算放大器和比较器的元器件失效率（FIT）取决于运算放大器的类型。

源自 Siemens Norm SN 29500-2 的可靠性数据：

重要： SN29500-2 的 FIT 数据取决于集成度，因此不同器件列出的数值不同。

• 双极型或 BiFET 运算放大器、比较器或电压监测器，参考虚拟 $T_J$ 为 55°C，且 $U_{ref} \lt 0.7 \cdot U_{max}$：
  • 集成度 ≤ 30：3 FIT
  • 集成度 30 .. 300：6 FIT
  • 集成度 300 .. 1k：12 FIT
  • 集成度 3k+：SN 29500-2 中未规定
• CMOS 运算放大器，参考虚拟 $T_J$ 为 45°C：
  • 集成度 ≤ 30：2 FIT
  • 集成度 30 .. 300：4 FIT
  • 集成度 300 .. 1k：8 FIT
  • 集成度 3k+：SN 29500-2 中未规定

源自 TI 功能安全数据手册 的可靠性数据：

• BICMOS Op Amp, Comparators, Voltage Monitors：参考虚拟 $T_J$ 为 45°C 时为 8 FIT（来源： OPA197-Q1 功能安全数据手册，另见 OPA388-Q1 功能安全数据手册 和 INA310-Q1 功能安全数据手册）
• CMOS, BICMOS Digital, analog / mixed：参考虚拟 $T_J$ 为 55°C 时为 20 FIT（来源： OPA1679-Q1 功能安全数据手册——此处的"digital"部分指 A/B 类控制电路），但在 INA300-Q1 功能安全数据手册 中，$T_J$ 为 55°C 时列为 25 FIT
• BiCMOS Comparators：参考虚拟 $T_J$ 为 45°C 时为 4 FIT（来源： TLC393-Q1 功能安全数据手册）

有关将这些数值调整到你具体工作条件所需的方法详情，请参阅 TI 白皮书：Understanding Functional Safety FIT Base Failure Rate Estimates per IEC 62380 and SN 29500